IPDS 2T

Monokrystaliczny dyfraktometr rentgenowski

Niezawodny, monokrystaliczny dyfraktometr rentgenowski oparty na płycie obrazującej z rozszerzonym zakresem akwizycji do 137° w 2θ

  • Płyta obrazująca, aktywna powierzchnia o średnicy 340mm
  • Akwizycja danych do 137° w 2θ
  • Bardzo duży zakres dynamiczny, > 1:105 (16bit)
  • Bardzo niskie tło (brak prądu ciemnego)
  • Idealny do materiałów słabo rozpraszających
  • Użyteczne intensywności bardzo słabych i bardzo silnych refleksów w tej samej ramce pomiarowej
  • Długa żywotność, niskie koszty użytkowania i utrzymania
  • Możliwość stosowania źródeł Cu, Mo, Ag oraz źródeł Cu, Mo, Ag z mikroogniskiem i rentgenowską optyką światłowodową
  • Możliwość stosowania dwóch źródeł promieniowania
  • Możliwość podłączenia dwóch systemów do jednego źródła promieniowania
  • Możliwość stosowania przystawek nisko-, wysokotemperaturowych i wysokociśnieniowych
  • Niezawodność: 10 lat gwarancji na elementy wytwarzane przez STOE

Broszura zawierająca opis akcesoriów dyfraktometrów monokrystalicznych STOE:

  1. Główki goniometryczne
  2. Przystawki wysokotemperaturowe
  3. Przystawki niskotemperaturowe
  4. Przystawki wysokociśnieniowe

Nowe, 32-bitowe oprogramowanie X-area zostało stworzone do pracy ze wszystkimi dyfraktometrami monokrystalicznymi STOE. Zawiera dobrze znane narzędzia:

  • Recipe
  • X-Shape
  • X-Red32

CECHY

  • Wysoka jakość danych; 32 bity na piksel, nieograniczona ilość refleksów w uśrednianiu parametrów komórki
  • Wykorzystanie profilu odbicia eliptycznego do symulacji rozdziału α1/α2 podczas procesu integracji
  • Szersze wykorzystanie GUI podczas pomiaru i przetwarzania danych; lepsza kontrola, wcześniejszy i dogłębny wgląd w dane
  • Większa elastyczność dzięki dynamicznemu zarządzaniu pamięcią
  • Pełna integracja z FaceitVideo

AKWIZYCJA DANYCH
Obsługa urządzenia / Pomiar / Optymalizacja

  • Intuicyjny interfejs obsługi dyfraktometru oferujący bezpośredni dostęp do wszystkich funkcji.
  • Proste centrowanie próbki przy pomocy zintegrowanej funkcji FaceitVideo
  • Automatyczne zapisywanie danych za pomocą kilku prostych kroków w programie pomiarowy
  • Wysoka dokładność danych zapewniona dzięki ramkom o 32 bitach na piksel
  • Przyjazny dla użytkownika interfejs optymalizuje strategię pomiarową (np. w odniesieniu do wysokiej kompletności danych zgodnie z układem kryształu), umożliwiając szybszą oraz dedykowaną rejestrację danych.
  • Sygnał z kamery wideo umożliwiający przyjazne dla użytkownika centrowanie kryształów, a nawet w razie potrzeby indeksowanie ściany kryształu.

 

  • Wydajne narzędzie umożliwiające zbieranie czasowo-zoptymalizowanych danych.

PREZENTOWANIE DANYCH

  • X-Area zawiera wszechstronny program graficzny do inspekcji zapisanych ramek
  • Opcja interaktywnego wyświetlacza umożliwia proste do użycia sprawdzanie jakości badanego kryształu, np.: nieoczekiwanie rozszczepienia refleksów mogą być szybko i łatwo sprawdzone
  • Obrazy dyfrakcyjne mogą być sprawdzone pod kątem anomalii np. rozpraszania dyfuzyjnego
  • Inspekcja refleksów – zaawansowanie graficzne narzędzie do bliższej oceny ramek

PRZETWARZANIE OBRAZU
Wskaźnik / Komórka / Udokładnianie

  • Odnajdywanie refleksów odbywa się w trybie wieloparametrowym
  • Refleksy mogą być indeksowane zarówno automatycznie jak w oparciu o metodę graficzną
  • Parametry komórki są udokładnianie zgodnie z układem kryształu
  • Nieograniczona ilość refleksów do udokładniania
  • Wydajne i wygodnie wskaźnikowanie – wsparte graficznie indeksowanie umożliwia dokładne sprawdzenie jakości kryształu.

 

 

Kontrola graficzna – specjalne efekty, takie jak satelity mogą być w prosty sposób wykryte podczas indeksowania.

INTEGRACJA

  • Wykorzystanie profili refleksów eliptycznych I opcji rozszczepienia 1/-2 do procesu integracji
  • Automatyczna optymalizacja parametrów integracji
  • Samoczynne wykrywanie nakładających się refleksów
  • Graficzna kontrola nad procesem integracji
  • Maskowanie powierzchni detektora (definiowane przez użytkownika)
  • Wsparcie dla przystawek wysokociśnieniowych poprzez automatycznie przeliczone maski cieniujące
  • Domyślny plik intensywności danych zgodny z SHELX
  • Opcjonalnie plik zgodny z XD
  • Integracja refleksów – sprawdzona procedura integracji dostarcza dokładny zbiór danych intensywności.

 

ANALIZA DANYCH

  • Wykres statystyczny do określenia czy grupa przestrzenna jest centro-symetryczna
  • Analizator do wygodnego określenia prawidłowych grup Laue`go
  • Automatyczne określenie grup przestrzennych
  • Wyświetlanie refleksów w przeglądarce sieci odwrotnych
  • Trudne wzory mogą być sprawdzane przy pomocy podglądu warstw we współrzędnych sieci odwrotnej, zbudowanej z pikseli zapisanych ramek
  • Konwersja pikseli w diagramy proszkowe
  • Analizator Lauego – Szybkie i proste sprawdzenie grup Lauego

 

KOREKCJE

  • Korekcja Lp i absorpcji powietrza
  • Korekcja absorpcji promieniowania przez kryształ (numeryczna korekcja lub skalowanie intensywności oparte na harmonice sferycznej w połączeniu z refleksami symetrycznie powiązanymi)
  • Automatyczna wersja programu X-Shape
  • Skalowanie wewnątrz-ramkowe, oparte na wielomianach
  • Korekcja dekompozycji kryształu
  • Odrzucenie wartości skrajnych
  • X-shape – automatyczna optymalizacja względem kształtu kryształu do numerycznej poprawki na absorpcję

 

ROZSZERZENIA

Układy wielodomenowe:

  • Pół-automatyczne indeksowanie refleksów poszczególnych domen
  • Jednoczesna integracja intensywności do ośmiu domen składowych z pełną kontrolą graficzną
  • Skalowanie intensywności oparte na zbiorach powiązanych refleksów.

Struktury modulowane niewspółmiernie:

  • Ocena sieci głównej
  • Wyznaczanie i udokładnienie do trzech wektorów modulacji q
  • Integracja refleksów głównych i satelitarnych
  • Możliwość przetwarzania obrazów  niewspółmiernie modulowanych, wielo-domenowych kryształów.

Integracja wielodomenowa:
Przykład integracji dwu-domenowej (kolor turkusowy: grupy nakładających się refleksów)