czterokołowy dyfraktometr monokrystaliczny

STADIVARI

Czterokołowy dyfraktometr monokrystaliczny

Czterokołowy wysokiej klasy dyfraktometr monokrystaliczny z detektorem pikselowym DECTRIS i otwartą kołyską Eulera

Czterokołowy dyfraktometr STADI VARI to najbardziej zaawansowana propozycja firmy STOE do badań monokryształów.
Urządzenie przeznaczone jest do pomiaru materiałów nieorganicznych, organicznych oraz białek.

Zastosowana otwarta kołyska Eulera oferuje wystarczająco dużo miejsca do montażu ciężkich przystawek bez wpływu na krążek rozmycia.
W dyfraktometrze STADI VARI można stosować przystawki wysokotemperaturowe, niskotemperaturowe i wysokociśnieniowe.

W konfiguracji z podwójną wiązką możliwe są wszystkie kombinacje rodzajów źródeł Cu, Mo i Ag: źródła standardowe, źródła typu microfocus, ciekła anoda MetalJet

Ze względu na swoją wyjątkową stabilność goniometr STADI VARI jest zainstalowany w wiodących liniach synchrotronowych na całym świecie.

Dyfraktometr STADI VARI pozostaje pod kontrolą oprogramowania STOE X-Area.

  • Elastyczny goniometr – kołyska Eulera oraz różne stałe ustawienia chi
  • Bardzo mały krążek rozmycia < 5µm (promień)
  • Czterokołowy goniometr 2Θ: 240° / ω: 205° / X: 90° / Φ: 360°
  • Możliwość instalacji dwóch źródeł promieniowania
  • Możliwość stosowania standardowych źródeł Cu, Mo, Ag, źródeł z mikroogniskiem oraz ciekłych anod MetalJet
  • Bezszumowy detektor pikselowy PILATUS lub EIGER firmy DECTRIS, o bardzo szybkim rejestrowaniu sygnałów, możliwości długotrwałej ekspozycji oraz bardzo szybkiej pracy bezprzesłonowej.
  • przystawki nisko-, wysokotemperaturowe i wysokociśnieniowe
  • 10 lat gwarancji na elementy wytwarzane przez STOE

Broszura opisująca czterokołowy dyfraktometr STADI VARI firmy STOE

Nowe, 32-bitowe oprogramowanie X-area zostało stworzone do pracy ze wszystkimi dyfraktometrami monokrystalicznymi STOE. Zawiera dobrze znane narzędzia:

  • Recipe
  • X-Shape
  • X-Red32

CECHY

  • Wysoka jakość danych; 32 bity na piksel, nieograniczona ilość refleksów w uśrednianiu parametrów komórki
  • Wykorzystanie profilu odbicia eliptycznego do symulacji rozdziału α1/α2 podczas procesu integracji
  • Szersze wykorzystanie GUI podczas pomiaru i przetwarzania danych; lepsza kontrola, wcześniejszy i dogłębny wgląd w dane
  • Większa elastyczność dzięki dynamicznemu zarządzaniu pamięcią
  • Pełna integracja z FaceitVideo

AKWIZYCJA DANYCH
Obsługa urządzenia / Pomiar / Optymalizacja

  • Intuicyjny interfejs obsługi dyfraktometru oferujący bezpośredni dostęp do wszystkich funkcji.
  • Proste centrowanie próbki przy pomocy zintegrowanej funkcji FaceitVideo
  • Automatyczne zapisywanie danych za pomocą kilku prostych kroków w programie pomiarowy
  • Wysoka dokładność danych zapewniona dzięki ramkom o 32 bitach na piksel
  • Przyjazny dla użytkownika interfejs optymalizuje strategię pomiarową (np. w odniesieniu do wysokiej kompletności danych zgodnie z układem kryształu), umożliwiając szybszą oraz dedykowaną rejestrację danych.
  • Sygnał z kamery wideo umożliwiający przyjazne dla użytkownika centrowanie kryształów, a nawet w razie potrzeby indeksowanie ściany kryształu.

 

  • Wydajne narzędzie umożliwiające zbieranie czasowo-zoptymalizowanych danych.

PREZENTOWANIE DANYCH

  • X-Area zawiera wszechstronny program graficzny do inspekcji zapisanych ramek
  • Opcja interaktywnego wyświetlacza umożliwia proste do użycia sprawdzanie jakości badanego kryształu, np.: nieoczekiwanie rozszczepienia refleksów mogą być szybko i łatwo sprawdzone
  • Obrazy dyfrakcyjne mogą być sprawdzone pod kątem anomalii np. rozpraszania dyfuzyjnego
  • Inspekcja refleksów – zaawansowanie graficzne narzędzie do bliższej oceny ramek

PRZETWARZANIE OBRAZU
Wskaźnik / Komórka / Udokładnianie

  • Odnajdywanie refleksów odbywa się w trybie wieloparametrowym
  • Refleksy mogą być indeksowane zarówno automatycznie jak w oparciu o metodę graficzną
  • Parametry komórki są udokładnianie zgodnie z układem kryształu
  • Nieograniczona ilość refleksów do udokładniania
  • Wydajne i wygodnie wskaźnikowanie – wsparte graficznie indeksowanie umożliwia dokładne sprawdzenie jakości kryształu.

 

 

Kontrola graficzna – specjalne efekty, takie jak satelity mogą być w prosty sposób wykryte podczas indeksowania.

INTEGRACJA

  • Wykorzystanie profili refleksów eliptycznych I opcji rozszczepienia 1/-2 do procesu integracji
  • Automatyczna optymalizacja parametrów integracji
  • Samoczynne wykrywanie nakładających się refleksów
  • Graficzna kontrola nad procesem integracji
  • Maskowanie powierzchni detektora (definiowane przez użytkownika)
  • Wsparcie dla przystawek wysokociśnieniowych poprzez automatycznie przeliczone maski cieniujące
  • Domyślny plik intensywności danych zgodny z SHELX
  • Opcjonalnie plik zgodny z XD
  • Integracja refleksów – sprawdzona procedura integracji dostarcza dokładny zbiór danych intensywności.

 

ANALIZA DANYCH

  • Wykres statystyczny do określenia czy grupa przestrzenna jest centro-symetryczna
  • Analizator do wygodnego określenia prawidłowych grup Laue`go
  • Automatyczne określenie grup przestrzennych
  • Wyświetlanie refleksów w przeglądarce sieci odwrotnych
  • Trudne wzory mogą być sprawdzane przy pomocy podglądu warstw we współrzędnych sieci odwrotnej, zbudowanej z pikseli zapisanych ramek
  • Konwersja pikseli w diagramy proszkowe
  • Analizator Lauego – Szybkie i proste sprawdzenie grup Lauego

 

KOREKCJE

  • Korekcja Lp i absorpcji powietrza
  • Korekcja absorpcji promieniowania przez kryształ (numeryczna korekcja lub skalowanie intensywności oparte na harmonice sferycznej w połączeniu z refleksami symetrycznie powiązanymi)
  • Automatyczna wersja programu X-Shape
  • Skalowanie wewnątrz-ramkowe, oparte na wielomianach
  • Korekcja dekompozycji kryształu
  • Odrzucenie wartości skrajnych
  • X-shape – automatyczna optymalizacja względem kształtu kryształu do numerycznej poprawki na absorpcję

 

ROZSZERZENIA

Układy wielodomenowe:

  • Pół-automatyczne indeksowanie refleksów poszczególnych domen
  • Jednoczesna integracja intensywności do ośmiu domen składowych z pełną kontrolą graficzną
  • Skalowanie intensywności oparte na zbiorach powiązanych refleksów.

Struktury modulowane niewspółmiernie:

  • Ocena sieci głównej
  • Wyznaczanie i udokładnienie do trzech wektorów modulacji q
  • Integracja refleksów głównych i satelitarnych
  • Możliwość przetwarzania obrazów  niewspółmiernie modulowanych, wielo-domenowych kryształów.

Integracja wielodomenowa:
Przykład integracji dwu-domenowej (kolor turkusowy: grupy nakładających się refleksów)