STADI MP

Dyfraktometr proszkowy

Jeden system, jeden goniometr, trzy geometrie pomiarowe

Główne zalety systemu STADI MP:

  • Dyfraktometr proszkowy o bardzo szerokich możliwościach pomiarowych
  • Możliwość prowadzenia pomiarów w trzech geometriach: transmisja/ Debye-Scherrer, mikro-dyfrakcja, odbicie/Bragg-Brentano.
  • Zmiana geometrii pomiarowej w kilka minut poprzez przesunięcie po szynie ramienia ze źródłem promieniowania.
  • Brak konieczności re-kalibracji po zmianie geometrii.
  • Pomiary w każdej geometrii przy pomocy czystego promieniowania Kα1 ze źródeł Fe, Cu, Mo i Ag.
  • Bezszumowy detektor Mythen 1K
  • Automatyczny podajnik uchwytów próbek i kapilar.
  • Pomiary w niskich i wysokich temperaturach.
  • Niezawodność – 10 lat gwarancji na elementy wytwarzane przez STOE.

Geometria  transmisyjna Debye – Scherrer w połączeniu z czystym promieniowaniem Kα1

  • Detekcja sygnałów w całym zakresie 2-theta.
  • Szybkość pomiaru – akwizycja sygnału na całej aperturze detektora jednocześnie (18°)
  • Możliwość pomiarów od najmniejszych kątów 2Theta – <0.2ᵒ
  • Wysoka jakość danych – najlepsza osiągnięta rozdzielczość – 0.03ᵒ 2theta
  • Możliwość rzeczywistego pomiaru bardzo małych ilości materiałów.
  • Brak wpływu orientacji materiału w próbce na wynik pomiaru.
  • Łatwa praca z próbkami wrażliwymi na wilgoć lub powietrze.
  • Eliminacja zjawiska przesunięcia w 2theta ze względu na różnice w wysokości próbki.
  • Eliminacja tworzenia form polimorficznych przez ugniatanie próbki

DETEKTOR MYTHEN 1K Dectris

  • półprzewodnikowy detektor paskowy firmy Dectris,
  • zliczający pojedyncze fotony promieniowania RTG, bez konwersji na światło widzialne.
  • 24 bitowy zakres dynamiczny przy jednoczesnym brakiem szumów oraz ciemnych prądów.
  • Bezobsługowy, bardzo szybki – w połączeniu z monochromatorem STOE umożliwia zebranie danych w zakresie 2theta 0° – 120° w 60 sekund.
  • Posiada 1280 pasków o szerokości 50µm każdy.
  • Grubość paska krzemowego jest dostosowana do rodzaju zastosowanego źródła promieniowania.

Akcesoria dyfraktometrów proszkowych STOE:
– Uchwyty dla próbek transmisyjnych
– Uchwyty kapilar
– Uchwyty odbiciowe
– Uchwyty do pomiarów cienkich warstw
– Automatyczne podajniki próbek i kapilar
– Przystawki wysoko- i niskotemperaturowe


Przystawki do pomiarów in-situ

Wysoko-temperaturowa komora in-situ do analiz dyfrakcji XRD in situ z możliwością prowadzenia pomiarów w atmosferze przepływającego gazu w geometrii transmisyjnej Debye-Scherrer z czystym promieniowaniem Kα1

Krótka charakterystyka:
– Zakres temperatur – RT – 1800K
– Przepływ gazu – 0.01 – 0.1 l/min
– Objętość próbki – 10-20 mm3
– Do stosowania z promieniowaniem Mo Kα1
– Zakres 2Theta – 90°
– Zgodna z dyfraktometrami XRD STOE


Przystawka do pomiarów elektrochemicznych in-situ

OPROGRAMOWANIE DO DYFRAKCJI PROSZKOWEJ WinXPOW

  • Bardzo elastyczna, wydajna i prosta w obsłudze 32-bitowa aplikacja dla systemów Windows
  • Możliwość obsługi dwóch dyfraktometrów jednocześnie z jednego komputera
  • Wyniki mogą być łatwo wykorzystane w innych aplikacjach Windows
  • Liberalna polityka licencyjna, bezpłatne aktualizacje przez 3 lata
  • Kompletne oprogramowanie do rejestracji i ewaluacji danych

CECHY:

  • Konfiguracja urządzenia
  • Obsługa dyfraktometru / rejestracja danych / kalibracja PSD
  • Grafika – wyszukiwanie pików, wygładzanie, odejmowanie tła
  • Grafika 3D
  • Obsługa danych Raw z opcją importu/eksportu w różnych formatach
  • Dopasowanie profilu
  • Indeksowanie i udokładnianie stałych sieci
  • Generowanie teoretycznego wzoru
  • Analiza wielkości / naprężeń
  • Analiza zachowanego austenitu
  • Opcjonalnie CFR21 wersja zgodna z cz.11

REJESTRACJA DANYCH / KONTROLA TEMPERATURY

  • Elastyczny i intuicyjny interfejs użytkownika. Prosty dostęp i obsługa dyfraktometru oraz podłączonych urządzeń
  • Obsługa różnych konfiguracji – transmisja, Debye-Scherrer i odbicie
  • Dla skanów 2Θ/Ω, Θ/2Θ, Θ i Ω
  • Automatyczne pomiary w funckcji zmiany temperatury – obsługa kilkunastu nisko- i wysokotemperaturowych Przystawek
  • Pomiary z podajnikami próbek mogą być wykonane bezpośrednio
    lub za pomocą programów zewnętrznych przy pomocy plików do obsługi seryjnej
  • W pełni automatyczna kalibracja: korekcja punktu zero w ciągu kilku minut

OBSŁUGA DANYCH RAW

  • Redukcja danych z narzędziami do edycji tła, absorpcji, martwego czasu, korekcji kątowej oraz w przypadku konieczności odcięcia KA2
  • Kompletne pliki lub wybrane zakresy mogą być łączone, dodawane lub odejmowane

PREZENTACJA:

Grafika 2D:

  • Wydajny program graficzny do wizualizacji i prezentacji danych
  • Wizualizacje różnego zakresu danych np. zmierzone dne, dane piku lub dane importowane z baz ICDD
  • Podstawowe przetwarzanie danych np. wyszukiwanie pików lub edycja tła
  • Wszystkie zestawy danych segregowane w przejrzysty sposób, z możliwością oznaczania kolorami osi itp.

Grafika 3D

  • Łatwo dostępne narzędzie do wizualizacji 3D
  • Elastyczny wybór perspektyw, skalowania i opcji oznaczania widoku ‘góra-dół’ na secie danych (wykresie Guinier`a)

EWALUACJA

  • Indeksowanie wzorów i określanie grup przestrzennych jest często krokiem ograniczającym w określaniu struktury docelowej z danych proszkowych. Dlatego WinXPow wraz z SystEval oferuje wydajne narzędzie do wyszukiwania pików, indeksowanie przy pomocy 3 dobrze znanych algorytmów, udokładnianie komórki i określenie symboli wygaszania.
  • Wszystko wykonywane z pełnym udokładnianiem obrazu
  • Dopasowywanie i indeksowanie profilu również dostępne jako niezależny moduł Size-Strain / Crystallinity
  • Ewaluacja pomiarów rozmiarów / naprężeń
  • Określanie stanu krystaliczności teoretycznego obrazu
  • Obliczanie teoretycznego obrazu z podanych metrycznych i atomowych pozycji
  • Prosty import z plików CIF