• Oferta

    Systemy do nakładania warstw

    • Atomic Layer Deposition (ALD)
    • CVD/PVD/Implantacja jonowa/Trawienie jonowe

    Obróbka materiałów półprzewodnikowych

    • Powlekacze obrotowe (spin coater)
    • Hotplate
    • Stoły mokre, dygestoria
    • Urządzenia do procesów mokrych
    • Manipulacja i przechowywanie podłoży

    Litografia

    • Litografia laserowa
    • Litografia klasyczna (mask aligner)
    • Litografia elektronowa

    Pomiar grubości warstw

    • Reflektometry optyczne
    • Elipsometry

    Wyposażenie technologiczne

    • Wyposażenie antywibracyjne
    • Przepływomierze bezkontaktowe

    Materiały eksploatacyjne

    • Fotorezysty
    • Prekursory do procesów ALD/CVD
    • Podłoża półprzewodnikowe

    Dyfraktometry rentgenowskie

    • Dyfraktometry proszkowe
    • Dyfraktometry monokrystaliczne

    Tomografy rentgenowskie

    • Tomografy in vivo
    • Tomografy in vitro
    • Skanowanie usługowe

    Szukasz czegoś innego?

    Napisz do nas
  • Aktualności
  • Kontakt
  • O nas
  • Pomiar grubości warstw

Podkategorie główne

  • Elipsometry
  • Reflektometry optyczne

Urządzenia do pomiaru grubości warstw

Reflektometry optyczne

Reflektometry optyczne

Zobacz

Elipsometry

Wielozakresowe elipsometry do pomiarów cienkich warstw ex-situ i in-situ

Zobacz

info@devmatech.pl
+48 22 378 44 08

Menu

  • Strona główna
  • Aktualności
  • O nas

Dla klienta

  • Kontakt

Informacje

  • Aktualności

Obserwuj nas

Project by: travi. | Agencja interaktywna
Na naszej stronie wykorzystujemy pliki Cookies zgodnie z polityką prywatności. Przeglądając witrynę akceptujesz warunki. Zobacz szczegóły