Oferta
Systemy do nakładania warstw
Atomic Layer Deposition (ALD)
CVD/PVD/Implantacja jonowa/Trawienie jonowe
Obróbka materiałów półprzewodnikowych
Spin coater (powlekacze obrotowe)
Hotplate
Stoły mokre, dygestoria
Urządzenia do procesów mokrych
Manipulacja i przechowywanie podłoży
Litografia
Litografia laserowa
Litografia klasyczna (mask aligner)
Litografia elektronowa
Pomiar grubości warstw
Reflektometry optyczne
Elipsometry
Wyposażenie technologiczne
Wyposażenie antywibracyjne
Przepływomierze bezkontaktowe
Materiały eksploatacyjne
Fotorezysty
Prekursory do procesów ALD/CVD
Podłoża półprzewodnikowe
Dyfraktometry rentgenowskie
Dyfraktometry proszkowe
Dyfraktometry monokrystaliczne
Tomografy rentgenowskie
Tomografy in vivo
Tomografy in vitro
Skanowanie usługowe
Szukasz czegoś innego?
Napisz do nas
Aktualności
Kontakt
O nas
PL
CS
Pomiar grubości warstw
Podkategorie główne
Elipsometry
Reflektometry optyczne
Urządzenia do pomiaru grubości warstw
Reflektometry optyczne
Reflektometry optyczne
Zobacz
Elipsometry
Wielozakresowe elipsometry do pomiarów cienkich warstw ex-situ i in-situ
Zobacz
Na naszej stronie wykorzystujemy pliki Cookies zgodnie z polityką prywatności. Przeglądając witrynę akceptujesz warunki.
Zobacz szczegóły
Rozumiem