IPDS II

Niezawodny, monokrystaliczny dyfraktometr rentgenowski oparty na płycie obrazującej

    Ta strona jest chroniona przez reCAPTCHA oraz Google Polityka Prywatności | Warunki użytkowania.

    • Płyta obrazująca, aktywna powierzchnia o średnicy 340mm
    • Bardzo duży zakres dynamiczny, > 1:105 (16bit)
    • Bardzo niskie tło (brak prądu ciemnego)
    • Idealny do materiałów słabo rozpraszających
    • Użyteczne intensywności bardzo słabych i bardzo silnych refleksów w tej samej ramce pomiarowej
    • Długa żywotność, niskie koszty użytkowania i utrzymania
    • Możliwość stosowania źródeł Cu, Mo, Ag oraz źródeł Cu, Mo, Ag z mikroogniskiem i rentgenowską optyką światłowodową
    • Możliwość podłączenia dwóch systemów do jednego źródła promieniowania
    • Możliwość stosowania przystawek nisko-, wysokotemperaturowych i wysokociśnieniowych
    • Niezawodność: 10 lat gwarancji na elementy wytwarzane przez STOE

    Broszura zawierająca opis akcesoriów dyfraktometrów monokrystalicznych STOE:

    1. Główki goniometryczne
    2. Przystawki wysokotemperaturowe
    3. Przystawki niskotemperaturowe
    4. Przystawki wysokociśnieniowe

    Nowe, 32-bitowe oprogramowanie X-area zostało stworzone do pracy ze wszystkimi dyfraktometrami monokrystalicznymi STOE. Zawiera dobrze znane narzędzia:

    • Recipe
    • X-Shape
    • X-Red32

    CECHY

    • Wysoka jakość danych; 32 bity na piksel, nieograniczona ilość refleksów w uśrednianiu parametrów komórki
    • Wykorzystanie profilu odbicia eliptycznego do symulacji rozdziału α1/α2 podczas procesu integracji
    • Szersze wykorzystanie GUI podczas pomiaru i przetwarzania danych; lepsza kontrola, wcześniejszy i dogłębny wgląd w dane
    • Większa elastyczność dzięki dynamicznemu zarządzaniu pamięcią
    • Pełna integracja z FaceitVideo

    AKWIZYCJA DANYCH
    Obsługa urządzenia / Pomiar / Optymalizacja

    • Intuicyjny interfejs obsługi dyfraktometru oferujący bezpośredni dostęp do wszystkich funkcji.
    • Proste centrowanie próbki przy pomocy zintegrowanej funkcji FaceitVideo
    • Automatyczne zapisywanie danych za pomocą kilku prostych kroków w programie pomiarowy
    • Wysoka dokładność danych zapewniona dzięki ramkom o 32 bitach na piksel
    • Przyjazny dla użytkownika interfejs optymalizuje strategię pomiarową (np. w odniesieniu do wysokiej kompletności danych zgodnie z układem kryształu), umożliwiając szybszą oraz dedykowaną rejestrację danych.
    • Sygnał z kamery wideo umożliwiający przyjazne dla użytkownika centrowanie kryształów, a nawet w razie potrzeby indeksowanie ściany kryształu.

     

    • Wydajne narzędzie umożliwiające zbieranie czasowo-zoptymalizowanych danych.

    PREZENTOWANIE DANYCH

    • X-Area zawiera wszechstronny program graficzny do inspekcji zapisanych ramek
    • Opcja interaktywnego wyświetlacza umożliwia proste do użycia sprawdzanie jakości badanego kryształu, np.: nieoczekiwanie rozszczepienia refleksów mogą być szybko i łatwo sprawdzone
    • Obrazy dyfrakcyjne mogą być sprawdzone pod kątem anomalii np. rozpraszania dyfuzyjnego
    • Inspekcja refleksów – zaawansowanie graficzne narzędzie do bliższej oceny ramek

    PRZETWARZANIE OBRAZU
    Wskaźnik / Komórka / Udokładnianie

    • Odnajdywanie refleksów odbywa się w trybie wieloparametrowym
    • Refleksy mogą być indeksowane zarówno automatycznie jak w oparciu o metodę graficzną
    • Parametry komórki są udokładnianie zgodnie z układem kryształu
    • Nieograniczona ilość refleksów do udokładniania
    • Wydajne i wygodnie wskaźnikowanie – wsparte graficznie indeksowanie umożliwia dokładne sprawdzenie jakości kryształu.

     

     

    Kontrola graficzna – specjalne efekty, takie jak satelity mogą być w prosty sposób wykryte podczas indeksowania.

    INTEGRACJA

    • Wykorzystanie profili refleksów eliptycznych I opcji rozszczepienia 1/-2 do procesu integracji
    • Automatyczna optymalizacja parametrów integracji
    • Samoczynne wykrywanie nakładających się refleksów
    • Graficzna kontrola nad procesem integracji
    • Maskowanie powierzchni detektora (definiowane przez użytkownika)
    • Wsparcie dla przystawek wysokociśnieniowych poprzez automatycznie przeliczone maski cieniujące
    • Domyślny plik intensywności danych zgodny z SHELX
    • Opcjonalnie plik zgodny z XD
    • Integracja refleksów – sprawdzona procedura integracji dostarcza dokładny zbiór danych intensywności.

     

    ANALIZA DANYCH

    • Wykres statystyczny do określenia czy grupa przestrzenna jest centro-symetryczna
    • Analizator do wygodnego określenia prawidłowych grup Laue`go
    • Automatyczne określenie grup przestrzennych
    • Wyświetlanie refleksów w przeglądarce sieci odwrotnych
    • Trudne wzory mogą być sprawdzane przy pomocy podglądu warstw we współrzędnych sieci odwrotnej, zbudowanej z pikseli zapisanych ramek
    • Konwersja pikseli w diagramy proszkowe
    • Analizator Lauego – Szybkie i proste sprawdzenie grup Lauego

     

    KOREKCJE

    • Korekcja Lp i absorpcji powietrza
    • Korekcja absorpcji promieniowania przez kryształ (numeryczna korekcja lub skalowanie intensywności oparte na harmonice sferycznej w połączeniu z refleksami symetrycznie powiązanymi)
    • Automatyczna wersja programu X-Shape
    • Skalowanie wewnątrz-ramkowe, oparte na wielomianach
    • Korekcja dekompozycji kryształu
    • Odrzucenie wartości skrajnych
    • X-shape – automatyczna optymalizacja względem kształtu kryształu do numerycznej poprawki na absorpcję

     

    ROZSZERZENIA

    Układy wielodomenowe:

    • Pół-automatyczne indeksowanie refleksów poszczególnych domen
    • Jednoczesna integracja intensywności do ośmiu domen składowych z pełną kontrolą graficzną
    • Skalowanie intensywności oparte na zbiorach powiązanych refleksów.

    Struktury modulowane niewspółmiernie:

    • Ocena sieci głównej
    • Wyznaczanie i udokładnienie do trzech wektorów modulacji q
    • Integracja refleksów głównych i satelitarnych
    • Możliwość przetwarzania obrazów  niewspółmiernie modulowanych, wielo-domenowych kryształów.

    Integracja wielodomenowa:
    Przykład integracji dwu-domenowej (kolor turkusowy: grupy nakładających się refleksów)