- Wielofunkcyjny dyfraktometr proszkowy
- Jeden goniometr - trzy geometrie
- Wszechstronność i wielozadaniowość
- Czyste promieniowanie Kα1 (Co, Cu, Mo, Ag)
- 10 lat gwarancji

Jeden system, jeden goniometr, trzy geometrie pomiarowe

  • Dyfraktometr proszkowy o bardzo szerokich możliwościach pomiarowych
  • Możliwość prowadzenia pomiarów w trzech geometriach: transmisja/ Debye-Scherrer, mikro-dyfrakcja, odbicie/Bragg-Brentano.
  • zmiana geometrii pomiarowej w kilka minut poprzez przesunięcie po szynie ramienia ze źródłem promieniowania.
  • Brak konieczności re-kalibracji po zmianie geometrii.
  • Pomiary w każdej geometrii przy pomocy czystego promieniowania Kα1 ze źródeł Fe, Cu, Mo i Ag.
  • Bezszumowy detektor Mythen 1K
  • Możliwość zastosowania detektorów liniowych PSD, IP-PSD.
  • Automatyczny podajnik uchwytów próbek i kapilar.
  • Pomiary w niskich i wysokich temperaturach.
  • Niezawodność – 10 lat gwarancji na elementy wytwarzane przez STOE.

Detektory

Mythen 1K

  • półprzewodnikowy detektor paskowy firmy Dectris,
  • zliczający pojedyncze fotony promieniowania RTG, bez konwersji na światło widzialne.
  • 24 bitowy zakres dynamiczny przy jednoczesnym brakiem szumów oraz ciemnych prądów.
  • Bezobsługowy, bardzo szybki – w połączeniu z monochromatorem STOE umożliwia zebranie danych w zakresie 2theta 0° – 120° w 60 sekund.
  • Posiada 1280 pasków o szerokości 50µm każdy.
  • Grubość paska krzemowego jest dostosowana do rodzaju zastosowanego źródła promieniowania.

Przykłady danych znajdują się w plikach:


Position sensitive wire (PSW)

  • Apertura ~6° 2Theta (STOE linear PSD).
  • Rozdzielczość kątowa: 0.06° 2Theta (STOE linear PSD).
  • Bardzo dobra wydajność kwantowa,
  • Odpowiedni dla  wszystkich źródeł promieniowania X

Jednowymiarowy zakrzywiony detektor oparty na płycie obrazującej

  • Apertura 80° lub 140°
  • Bardzo wysoka czułość, brak szumów
  • Niezawodne i długo żywotne
  • Odpowiedni dla  wszystkich źródeł promieniowania X
OPROGRAMOWANIE DO DYFRAKCJI PROSZKOWEJ WinXPOW

  • Bardzo elastyczna, wydajna i prosta w obsłudze 32-bitowa aplikacja dla systemów Windows
  • Możliwość obsługi dwóch dyfraktometrów jednocześnie z jednego komputera
  • Wyniki mogą być łatwo wykorzystane w innych aplikacjach Windows
  • Liberalna polityka licencyjna, bezpłatne aktualizacje przez 3 lata
  • Kompletne oprogramowanie do rejestracji i ewaluacji danych

CECHY:

  • Konfiguracja urządzenia
  • Obsługa dyfraktometru / rejestracja danych / kalibracja PSD
  • Grafika – wyszukiwanie pików, wygładzanie, odejmowanie tła
  • Grafika 3D
  • Obsługa danych Raw z opcją importu/eksportu w różnych formatach
  • Dopasowanie profilu
  • Indeksowanie i udokładnianie stałych sieci
  • Generowanie teoretycznego wzoru
  • Analiza wielkości / naprężeń
  • Analiza zachowanego austenitu
  • Opcjonalnie CFR21 wersja zgodna z cz.11

REJESTRACJA DANYCH / KONTROLA TEMPERATURY

  • Elastyczny i intuicyjny interfejs użytkownika. Prosty dostęp i obsługa dyfraktometru oraz podłączonych urządzeń
  • Obsługa różnych konfiguracji – transmisja, Debye-Scherrer i odbicie
  • Dla skanów 2Θ/Ω, Θ/2Θ, Θ i Ω
  • Automatyczne pomiary w funckcji zmiany temperatury – obsługa kilkunastu nisko- i wysokotemperaturowych Przystawek
  • Pomiary z podajnikami próbek mogą być wykonane bezpośrednio
    lub za pomocą programów zewnętrznych przy pomocy plików do obsługi seryjnej
  • W pełni automatyczna kalibracja: korekcja punktu zero w ciągu kilku minut

OBSŁUGA DANYCH RAW

  • Redukcja danych z narzędziami do edycji tła, absorpcji, martwego czasu, korekcji kątowej oraz w przypadku konieczności odcięcia KA2
  • Kompletne pliki lub wybrane zakresy mogą być łączone, dodawane lub odejmowane

PREZENTACJA:

Grafika 2D:

  • Wydajny program graficzny do wizualizacji i prezentacji danych
  • Wizualizacje różnego zakresu danych np. zmierzone dne, dane piku lub dane importowane z baz ICDD
  • Podstawowe przetwarzanie danych np. wyszukiwanie pików lub edycja tła
  • Wszystkie zestawy danych segregowane w przejrzysty sposób, z możliwością oznaczania kolorami osi itp.

Grafika 3D

  • Łatwo dostępne narzędzie do wizualizacji 3D
  • Elastyczny wybór perspektyw, skalowania i opcji oznaczania widoku ‘góra-dół’ na secie danych (wykresie Guinier`a)

EWALUACJA

  • Indeksowanie wzorów i określanie grup przestrzennych jest często krokiem ograniczającym w określaniu struktury docelowej z danych proszkowych. Dlatego WinXPow wraz z SystEval oferuje wydajne narzędzie do wyszukiwania pików, indeksowanie przy pomocy 3 dobrze znanych algorytmów, udokładnianie komórki i określenie symboli wygaszania.
  • Wszystko wykonywane z pełnym udokładnianiem obrazu
  • Dopasowywanie i indeksowanie profilu również dostępne jako niezależny moduł Size-Strain / Crystallinity
  • Ewaluacja pomiarów rozmiarów / naprężeń
  • Określanie stanu krystaliczności teoretycznego obrazu
  • Obliczanie teoretycznego obrazu z podanych metrycznych i atomowych pozycji
  • Prosty import z plików CIF
NOWOŚĆ!!

Wysoko-temperaturowa komora in-situ do analiz dyfrakcji XRD in situ z możliwością prowadzenia pomiarów w atmosferze gazu w geometrii transmisyjnej Debye-Scherrer z czystym promieniowanem Kα1.

Krótka charakterystyka:
– Zakres temperatur – RT – 1800K
– Przepływ gazu – 0.01 – 0.1 l/min
– Objętość próbki – 10-20 mm3
– Do stosowania z promieniowaniem Mo Kα1
– 2Theta – 90°
– Zgodna z dyfraktometrami XRD STOE

Komora in situ Stoe – broszura